測量儀的基礎知識

阿貝原理

阿貝原理是說明量測精度、也是設計測量儀器時的重要方針。阿貝原理是指,「為提高量測精度,量測目標物與測量儀器的刻度必須與量測方向位於同一條線上」。
以實際測量儀器中的外徑分厘卡而言,其刻度與量測的位置位於同一線上,相對的,游標卡尺的刻度則是與量測位置分離的。換言之,外徑分厘卡符合阿貝原理,游標卡尺則不符合阿貝原理。因此,外徑分厘卡的量測精度較高。

游標卡尺不符合「阿貝原理」
游標卡尺不符合「阿貝原理」
分厘卡符合「阿貝原理」
分厘卡符合「阿貝原理」
A
刻度的位置
B
量測的位置

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