形狀分析雷射共軛焦兼白光干涉顯微鏡 VK-X4000 系列,採用整合雷射共軛焦、白光干涉與 Focus Variation 三種不同掃描原理的「三重掃描方式」,可對各類目標物進行高精度量測與分析。此外,針對鏡面體與透明體等高難度材質,也能實現高速、高精度且大範圍的量測。再加上全新搭載的多點量測功能,即使面對多個目標物,也能由任何操作者輕鬆完成全自動多點量測,無需複雜設定即可實現量測流程自動化。在有效縮短作業時間的同時,亦可增加量測取樣點數,進一步提升研究開發過程中的客觀性與結果可靠性。
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