分厘卡

概要

將目標物夾住即可量測大小的工具。依據機型而定，有些機型能以1 µm為單位進行量測。不同於游標卡尺，由於它以「阿貝原理」為準，因此可進行更準確地量測。
一般提到分厘卡，大多是指外徑分厘卡。另外，依據量測用途而定，還有內徑分厘卡、3點式內徑分厘卡、棒型分厘卡、深度分厘卡等各種類型。此外，依據儀器框架的大小而定，其可量測範圍可能為0至25 mm、25至50 mm等，以25 mm為一個級距，必須使用符合目標物的儀器進行量測。另外，近來數位式分厘卡也日漸普及。

阿貝原理
阿貝原理是指「為提高量測精度，量測目標物與測量儀器的刻度必須與量測方向位於同一條線上」。以分厘卡而言，其刻度與量測的位置位於同一線上，符合阿貝原理，因此可稱其量測精度較高。

結構與用途

• 將目標物放置於鐵砧與測微螺桿之間，旋轉嵌環使兩端向中間靠緊。

分厘卡的主要使用方法

1. 量測前，用布將鐵砧與測微螺桿的接觸面擦乾淨。藉此可去除鐵砧與測微螺桿的髒污與塵埃，以達到正確的量測。
2. 分厘卡的手持方法是以左手拇指與食指夾住框架的防熱板部分，並以右手拇指與食指捏住嵌環。
3. 將目標物放置於鐵砧與測微螺桿之間，旋轉微調旋鈕直到開始空轉時，即可讀取量測數值。
4. 此時必須讀取套筒上的主要刻度以及嵌環上的刻度。以套筒右側的線條讀取以0.5 mm為單位的數值，然後利用與嵌環的中央線（基準線）對齊的刻度讀取以0.01 mm單位的數值。

使用時的注意事項

• 校正分厘卡時，可使用塊規或專用的量規。此外，為了正確量測，必須確保鐵砧表面維持平行。進行多次量測之後，鐵砧表面可能會因為磨損或髒污而未能保持平行。因此，應定期使用所謂的光學平面，透過呈現出來的牛頓環確認是否平行。
• 量測金屬目標物或使用塊規進行校正時，需注意熱膨脹。金屬應盡可能勿以徒手拿取，或可使用不導熱的精密作業用手套拿取。
• 分厘卡的校正週期為3個月至1年。