雷射顯微鏡

只需放置樣品後按一鍵，就能全自動完成量測的雷射顯微鏡。從光學顯微鏡到SEM的觀察領域，1 台包含觀察力、瞬間正確掃描各種形狀目標物的量測力、豐富的分析工具等。能因應各種觀察、量測、分析的需求。

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產品陣容

VK-X4000 系列 - 形狀分析 雷射共軛焦兼白光干涉顯微鏡

全新 形狀分析 雷射共軛焦兼白光干涉顯微鏡 VK-X4000 系列

形狀分析雷射共軛焦兼白光干涉顯微鏡 VK-X4000 系列，採用整合雷射共軛焦、白光干涉與 Focus Variation 三種不同掃描原理的「三重掃描方式」，可對各類目標物進行高精度量測與分析。此外，針對鏡面體與透明體等高難度材質，也能實現高速、高精度且大範圍的量測。再加上全新搭載的多點量測功能，即使面對多個目標物，也能由任何操作者輕鬆完成全自動多點量測，無需複雜設定即可實現量測流程自動化。在有效縮短作業時間的同時，亦可增加量測取樣點數，進一步提升研究開發過程中的客觀性與結果可靠性。

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雷射共軛焦、Focus Variation、 白光干涉 3 種不同掃描原理，可一台使用。可依樣品工件的材質、形狀、量測範圍，選擇最佳的掃描方式，達到高精度量測。