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形狀分析雷射顯微鏡

VK-X 系列

奈米等級高精度量測,可掌握細微表面形狀差異進行數值分析,支援各種材質的剖面、粗糙度、厚度等量測。

產品特點

  • 50mm~1nm 高精度量測
  • 量測範圍 超越以往的16倍
  • 量測時間 最快5秒

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VK-X 系列 - 形狀分析雷射顯微鏡

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  • 三重掃描方式的壓倒性量測對應力
  • 困難的膜厚、薄膜、厚度的高精度量測

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VK-X3000 系列 - 形狀分析 雷射共軛焦 兼 白光干涉顯微鏡

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