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          形狀分析雷射顯微鏡

          VK-X 系列

          廣角視野的量測

          透過WIDE-Scan 簡單· 高速地實現廣角視野的量測

          課題 1

          視野狹窄的話,無法得知正在觀察的部位; 還想觀察周圍.....

          課題 1

          高速高精度 WIDE-Scan 解決

          使用WIDE 功能可一目了然,不會發生量測部位的錯誤。

          想要提昇倍率實現高精度的觀察· 量測時,有時會因視野狹窄而不明白正在觀察的部位。按照對應目標的解析倍率使用 WIDE-Scan 的話,則可簡單地獲取廣角視野的高解析度 3D 圖像,對觀察部位也可一目了然。

          課題 2

          對於局部性的量測,會因拍攝部位不同而使數據產生偏差。

          課題 2

          高速高精度 WIDE-Scan 解決

          使用WIDE 功能,可一次性測量多個部位並平均化處理。

          量測數量少的部位時,會因選擇不同部位使數值產生偏差。使用WIDE-Scan 的話,則可簡單獲取到廣角視野的高解析度 3D 圖像。能夠輕鬆地測量多個部位,並實施平均化處理,使最終判斷不會受到選擇部位的影響。

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