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檢驗標籤

Label inspection

影像系統可以檢驗標籤上的缺陷。

「趨勢邊緣瑕疵」工具可以將邊緣位置與理想的參考模型執行比較,因而可以偵測出邊緣位置上的微小變化。此外,該工具還可以輸出單獨的位置,用以指出是否發生了對齊問題,以便對機器執行預防性調整。

優點

使用傳統的邊緣工具只能偵測到大的缺陷。而使用 XG 系列的「趨勢邊緣瑕疵」工具,即使是最微小的瑕疵也可以被穩定地檢驗出來。

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