偵測 IC 引線端子的彎曲
影像系統可以偵測 IC 引線端子中的彎曲。
透過棱鏡反射，XG 系列只需一台照相機就可以同時檢驗 IC 的頂部和側面表面。「趨勢邊緣瑕疵」工具透過將引線邊緣同依據原影像檢建立的參考模型執行比較來偵測引線中的彎曲。
- 優點
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幾何計算方法在以前用於鑒別 IC 引線的位置是否正確。這種方法的缺點在於所編程式太長，並且不熟悉系統操作的使用者無法執行調整。XG 系列的「趨勢邊緣瑕疵」工具可以精確定位物體在位置上的差異，此外任何使用者都可以輕易地依據生產標準調整容差。
瞭解產品的詳細資料
- XG-8000 系列
超高速、高容量多功能 CAMERA 影像處理系統 -
持續進化的影像處理市場中，包含各式各樣的機型。
- XG-8000 系列
- XG-7000 系列
超高速，機動化影像處理系統 -
XG 系列可透過控制器直接進行標準程式設計，也能使用選購的 Vision Editor PC 軟體執行進階程式設計。
- XG-7000 系列
- CV-5000 系列
超高速，多CAMERA影像處理系統 -
CV-5000系列的7X高速CCDCAMERA是同類產品中最快的，能輕鬆支援超高速生產線和持續移動的工件。
- CV-5000 系列
- CV-3000 系列 停產
多重CAMERA泛用型 -
使用業界最高性能的影像處理引擎，配合多種CAMERA選擇，提供了最大的機動性。
產品型錄
技術指南
- CV-3000 系列 停產
