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太陽能電池基板的表面檢驗

Surface inspection of solar battery substrates

影像系統可以檢驗基板的表面。

在 5 百萬像素照相機提供檢驗微小缺陷所需的高解析度的同時,XG 系列的新「即時濃淡補正濾鏡」和內建的偵測演算法也為偵測瑕疵提供了高準確度。

優點

由於解析度的限制,使用 2 百萬像素的照相機檢驗微小缺陷時無法得到令人滿意的結果。XG 系列系統和 5 百萬像素高速照相機能夠提供檢驗微小缺陷所需的解析度。

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