台灣

解決方案

薄膜的厚度量測

Thickness measurement of thin film

薄膜加工

由於滾筒的偏轉會影響量測，所以很難在滾筒上量測厚度。

優點

透過同時執行同步的滾筒和薄膜量測，可以最大限度減少滾筒錯誤。

瞭解產品的詳細資料

  • LK-G5000 系列
    超高速/ 高精度 CMOS 雷射位移感測器

    雷射位移感測器必須同時具備速度，精度和卓越性能，方可勝任於所有應用。LK-G5000 採用了國際頂尖技術，力爭在各個方面都做到世界最佳。

    產品型錄 技術指南

  • LK-G3000 系列
    超高速、高精度CCD雷射位移感測器

    有6種感測頭可供選擇，配合全新演算法和2種級型的光學系統一同使用

    產品型錄 技術指南