台灣

薄膜的厚度量測

Thickness measurement of thin film

薄膜加工

由於滾筒的偏轉會影響量測,所以很難在滾筒上量測厚度。

優點

透過同時執行同步的滾筒和薄膜量測,可以最大限度減少滾筒錯誤。

超高速/ 高精度 CMOS 雷射位移感測器