薄膜的厚度量測
薄膜加工
由於滾筒的偏轉會影響量測，所以很難在滾筒上量測厚度。
- 優點
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透過同時執行同步的滾筒和薄膜量測，可以最大限度減少滾筒錯誤。
瞭解產品的詳細資料
- LK-G5000 系列
超高速/ 高精度 CMOS 雷射位移感測器 -
雷射位移感測器必須同時具備速度，精度和卓越性能，方可勝任於所有應用。LK-G5000 採用了國際頂尖技術，力爭在各個方面都做到世界最佳。
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- LK-G3000 系列
超高速、高精度CCD雷射位移感測器 -
有6種感測頭可供選擇，配合全新演算法和2種級型的光學系統一同使用
- LK-G3000 系列
