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台灣
解決方案
產業 / 應用
案例研究
引線接合高度的量測
半導體製造
接合引線中的缺陷可能造成電路故障
優點
使用 2μm 的光點和雙掃描法確保執行穩定的量測。
表面掃描雷射共焦位移計
下載產品型錄
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