引線接合高度的量測
半導體製造
接合引線中的缺陷可能造成電路故障
- 優點
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使用 2μm 的光點和雙掃描法確保執行穩定的量測。
瞭解產品的詳細資料
- LT-9000 系列
表面掃描雷射共焦位移計 -
雙掃描高精密度雷射測定器。 Z 軸掃描: 的高解析度可測定所有的。 X 軸掃描: 追求功能性和穩定性。
- LT-9000 系列
接合引線中的缺陷可能造成電路故障
使用 2μm 的光點和雙掃描法確保執行穩定的量測。
雙掃描高精密度雷射測定器。 Z 軸掃描: 的高解析度可測定所有的。 X 軸掃描: 追求功能性和穩定性。
