引線接合高度的量測
半導體製造
接合引線中的缺陷可能造成電路故障
- 優點
-
使用 2μm 的光點和雙掃描法確保執行穩定的量測。
瞭解產品的詳細資料
- LT-9000 系列
表面掃描雷射共焦位移計 -
雙掃描高精密度雷射測定器。 Z 軸掃描: 的高解析度可測定所有的。 X 軸掃描: 追求功能性和穩定性。
- LT-9000 系列
- LT-8100/8000 系列 停產
雷射共焦位移計 -
革命性的全新位移計具備 0.1μm 的精確度
產品型錄
技術指南
- LT-8100/8000 系列 停產
接合引線中的缺陷可能造成電路故障
使用 2μm 的光點和雙掃描法確保執行穩定的量測。
雙掃描高精密度雷射測定器。 Z 軸掃描: 的高解析度可測定所有的。 X 軸掃描: 追求功能性和穩定性。
革命性的全新位移計具備 0.1μm 的精確度
| 產品型錄 |
技術指南
|
