台灣

引線接合高度的量測

Height measurement of a wire bond

半導體製造

接合引線中的缺陷可能造成電路故障

優點

使用 2μm 的光點和雙掃描法確保執行穩定的量測。

瞭解產品的詳細資料

  • 雙掃描高精密度雷射測定器。 Z 軸掃描: 的高解析度可測定所有的。 X 軸掃描: 追求功能性和穩定性。

  • 革命性的全新位移計具備 0.1μm 的精確度

    產品型錄 技術指南

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