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解決方案
可以高速度、穩定地測量液晶基板中的邊緣缺陷
借助綠色 LED 和可調整的閾值可追蹤高度透明的目標
全新高精度測微系統,可自動針對目標偏移和震動進行修正。
利用穿透技術、具有0.01微米高解析度、每秒2400個樣本的高速取樣的智能光學測微計。
高速雷射掃描測微計可同時使用四套感測頭和一個控制器,還可以用生產線速度作次微米測量。
雷射掃描外徑量測裝置可測量大直徑
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