要使用本網站所提供的各項功能,您的瀏覽器必須啟用 JavaScript 功能。
解決方案
偵測光學元件上不正確的輪廓
測量複雜幾何形狀上的透明或不透明工件
雙掃描高精密度雷射測定器。 Z 軸掃描: 的高解析度可測定所有的。 X 軸掃描: 追求功能性和穩定性。
頁首
台灣基恩斯股份有限公司 104 台北市中山區南京東路三段 168號8樓之1電話:+886-(0)2-2721-8080或 +886-800-010-898(免付費電話)傳真: +886-(0)2-2721-7770E-mail:info@keyence.com.tw 人才招募: KEYENCE 人才招募網站
Copyright (C) 2021 KEYENCE CORPORATION. All Rights Reserved.