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解決方案

光學元件的平行度量測

Parallelism measurement of optical elements

光學元件製造

偵測光學元件上不正確的輪廓

優點

測量複雜幾何形狀上的透明或不透明工件

瞭解產品的詳細資料

  • LT-9000 系列
    表面掃描雷射共焦位移計

    雙掃描高精密度雷射測定器。 Z 軸掃描: 的高解析度可測定所有的。 X 軸掃描: 追求功能性和穩定性。

    產品型錄 技術指南

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