光學元件的平行度量測
光學元件製造
偵測光學元件上不正確的輪廓
- 優點
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測量複雜幾何形狀上的透明或不透明工件
瞭解產品的詳細資料
- LT-9000 系列
表面掃描雷射共焦位移計 -
雙掃描高精密度雷射測定器。 Z 軸掃描: 的高解析度可測定所有的。 X 軸掃描: 追求功能性和穩定性。
- LT-9000 系列
- LT-8100/8000 系列 停產
雷射共焦位移計 -
革命性的全新位移計具備 0.1μm 的精確度
產品型錄
技術指南
- LT-8100/8000 系列 停產
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雙掃描高精密度雷射測定器。 Z 軸掃描: 的高解析度可測定所有的。 X 軸掃描: 追求功能性和穩定性。
革命性的全新位移計具備 0.1μm 的精確度
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