量測保護外殼的厚度

量測保護外殼的厚度。CL 系列搭載了光軸校正功能，可對合上下對夾之感測頭的光軸。以往的對夾式厚度量測中一直是一大課題，透過消除了光軸錯位，來達到正確的量測。

彩色共焦雷射位移計

CL-3000 系列

返回到根據產業和用途選擇產品