檢查搭載鏡片模組前的 CMOS 傾斜

檢查 CMOS 的傾斜。CL 系列可進行同軸量測，即便透明、鏡面的目標物傾斜也能夠正確檢查。

彩色共焦雷射位移計

CL-3000 系列

返回到根據產業和用途選擇產品