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由於元件小型化的趨勢,檢查線材頂點高度的重要性也隨之增加。有了同軸且可以同時量測整個面的 WI 系列,即可瞬間掌握並檢查具有光澤的線材頂點。此外,它最小的量測間距為 4 微米,即使遇到直徑較細的線材也能因應。
3D 干涉式位移感測器
WI-5000 系列
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