檢查石英振盪器的石英晶片狀態

以往使用小光點型感測器，必須移動目標物，故需耗費較多時間。LJ-X 系列採用線性雷射，能瞬間量測封裝與石英晶片的段差、傾斜。可以大幅縮短檢查時間。

超高精細線上輪廓感測器

LJ-X8000 系列

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