量測薄膜外緣的凹陷深度

檢查薄膜延伸後發生於端面附近的變形。LJ-X 系列能以超高精細度與高靈敏度進行量測，連透明薄膜的形狀也能正確量測。此外，由於它採用 2D 雷射方式，因此可以連續量測，無需移動感測頭。

超高精細線上輪廓感測器

LJ-X8000 系列