框架ID讀取

在半導體製造過程中，準確讀取刻印在晶圓環（切割框架）上的框架ID，對於確保可追溯性與徹底執行品質管理極為重要。然而，在堆疊保管、運送晶圓環時，ID條碼會產生刮傷或磨損，導致用傳統的讀碼器會頻繁發生讀取錯誤的課題。這種讀取不良是會直接導致產線停止或良率下降的嚴重問題。

能解決此課題的，就是KEYENCE的一維/二維條碼讀取器「SR-2000系列」。搭載獨家的最新讀取演算法與強大的影像補正功能，即使是處於刮傷、髒污、低對比度等惡劣條件下的難讀條碼，也能瞬間且穩定地讀取。藉此能大幅降低因讀取錯誤導致產線停止的風險，對提升生產力有極大貢獻。

此外，SR-2000系列支援超大視野、長距離讀取，因此即使在與對象物的距離或位置容易變動的環境下，也能確實捕捉ID。以高安裝自由度也能輕易安裝在既有設備上，實現半導體製造中準確的個體管理與可追溯性強化。