微型光譜干涉雷射位移計

SI-F 系列

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微型光譜干涉雷射位移計 SI-F 系列

微型光譜干涉雷射位移計

  • [超高精度] 解析度:0.25 μm
  • [世界最小] 微型感測頭尺寸:ø2 mm
  • [業界第一] 量測原理:光干涉法

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SI-F 系列 - 微型光譜干涉雷射位移計

世界首創微型感測頭,擁有同類產品中最高的量測精度,並達到過去認為不可能實現的性能。

產品特性

感測頭選擇豐富,擴大可對應的量測應用

產品陣容包含超小型、長距離等支援各種用途的專用感測頭。

消除發生測量錯誤的隱患

量測頭僅由光纖和鏡頭組成,無電子部件。