3D 干涉式位移感測器 WI-5000 系列

8萬個點的高度,只要0.13秒即可高精度量測

WI-5000 系列 - 3D 干涉式位移感測器

採用白光干涉原理實現高速、高精度的3D量測。從段差/體積量測等量測,到寬度/面積等各式各樣的量測均可因應。

非接觸線上粗糙度量測

以面瞬間量測的高度測量儀、3D干涉式位移感測器「WI-5000 系列」。從線粗糙度乃至面粗糙度,皆可在線上進行量測。

  • 線上面粗糙度量測(Sa、Sz)
  • 線上線粗糙度量測(Ra、Rz)

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產品特性

非點、非線,而是以「面」量測

針對最大10 × 10 mm 的測量區域,可瞬間獲取8萬個點的高度。由於採用白光干涉原理,不受材質、顏色、死角的影響,實現了微米級的高精度測量。

於線上實現高速全數檢查

量測多點時,必須高精度且高速地掃描目標物。 因此往往會將時間耗費在移動載物台上,難以執行全數檢查。然而 WI-5000 系列以面執行同時量測,所以能夠大幅縮短量測時間,實現全數檢查。

大幅減少離線檢查工時

為了在離線檢查使用,準備了固定感測頭的專用支架。 還搭載了可減少檢查工時的各種實用功能。改善從簡易量測到資料儲存等各種場合的操作性。