非接觸量測線材外徑 針對行進中的線材進行抗偏擺的全長量測

光學式尺寸量測儀 LS-9000 系列可在行進中以非接觸方式,以16,000次/秒的取樣速度量測裸線、絞線、光纖、漆包線等線材的外徑。抗偏擺能力強,亦支援極細線與斷線偵測。

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線材、金屬線外徑量測相關諮詢

無法正確量測行進中線材外徑時會發生的 3 個課題

行進中線材的外徑變異會直接影響特性與良率。以往的方式在現場應用中各有其極限。

外徑變異直接影響特性與良率

拉絲、絞線、繞線的成品外徑若有變異,會影響導體電阻、絕緣與繞線特性,進而導致規格不符或斷線。若無法在製程中偵測,則會在後續製程或最終產品中顯現為不良品,導致原料損耗與客訴。進行全長、全數的外徑管理是品質的關鍵。特別是在高速拉絲、絞線生產線上,微小的外徑波動也會造成大量不良品流出,嚴重壓迫良率與成本。

雷射掃描方式存在偏擺誤差

行進中的線材必然會產生偏擺或下垂,但掃描方式的結構容易使遮光時間點的變化直接轉化為誤差。這需要使用抑制偏擺的治具或限制速度,使得高速生產線上的全數管理變得困難。結果導致量測可靠性下降,進而漏檢不良品。若將偏擺引起的變異誤判為不良,則會排除良品;若漏檢,則會使潛在斷線風險的產品流向後續製程,損害良率與可靠性。

接觸式、抽樣檢驗無法實現全數檢驗

分厘卡等接觸式量測需要停止行進,且在細徑、軟線上容易造成刮傷或變形。以抽樣為主的檢驗容易漏檢斷線或局部變細,導致不良品流出。因此需要一種無需停止行進、能以非接觸方式進行全數檢驗的方法。若斷線或局部變細流出至後續製程或最終產品,將顯現為繞線不良或通電不良,成為返工與客訴的原因。

線材製程與外徑、斷線的量測要點

在從拉絲到收線的各個製程中掌握外徑與線材有無,及早偵測變異與斷線。

  1. 1 拉絲、芯線 – 量測①。以非接觸方式量測裸線、芯線的外徑,管理因模具磨損引起的外徑變化。無需停止行進即可進行全長監控。
  2. 2 絞線、繞線 – 量測②。以 16,000 次/秒的取樣速度連續量測行進中線材的外徑。即使有偏擺、傾斜,也能透過高速曝光 CMOS 與傾斜補正功能進行穩定量測。
  3. 3 多條線材、排線 – 量測③。使用發射器/接收器分離型感測頭同時量測多條線材的外徑,或追隨收線的排線位置進行量測。
  4. 4 斷線、存在監控/記錄 – 量測④。監控外徑與線材有無,偵測斷線、缺漏或局部變細。記錄全長外徑並運用於品質管理。

線材外徑量測方式的比較

根據量測方式的不同,在行進時的抗偏擺能力、高速全長、極細線支援、斷線監控等方面存在很大差異。

比較項目 LS-9000系列(透過光、高速曝光CMOS/非接觸) 雷射掃描方式 接觸式分厘卡
非接觸、對線材的影響
LS-9000系列(透過光、高速曝光CMOS/非接觸)
○ 非接觸、無刮傷
雷射掃描方式
○ 非接觸
接觸式分厘卡
× 有刮傷、變形的風險
行進時的偏擺、傾斜耐受性
LS-9000系列(透過光、高速曝光CMOS/非接觸)
○ 高速曝光CMOS+傾斜補正功能
雷射掃描方式
× 存在遮光時機誤差
接觸式分厘卡
× 行進時難以量測
高速連續、全長/全數線上
LS-9000系列(透過光、高速曝光CMOS/非接觸)
○ 以16,000次/秒進行全長、全數量測
雷射掃描方式
△ 取決於掃描速度
接觸式分厘卡
× 停止、抽檢
極細線、複數線材同時量測
LS-9000系列(透過光、高速曝光CMOS/非接觸)
○ φ10µm極細、排線同步量測
雷射掃描方式
△ 取決於對象、配置
接觸式分厘卡
× 逐點量測
斷線、存在監控
LS-9000系列(透過光、高速曝光CMOS/非接觸)
○ 透過外徑、有無進行檢測
雷射掃描方式
△ 取決於配置
接觸式分厘卡
× 無法連續監控

選擇LS-9000系列的理由

LS-9000系列透過光邊緣檢測,對運轉線材的外徑進行非接觸量測,並利用高速曝光CMOS與傾斜補正功能抑制掃描方式的偏擺誤差,以16,000次/秒的取樣進行全數量測。支援φ10µm的極細線或複數線材的同時量測,透過外徑、存在監控也能檢測斷線。解決了接觸式量測需要停止、可能產生刮傷的疑慮。

適用於線材、金屬線外徑量測的LS-9000系列

採用高亮度綠光LED透過光與3-CMOS的光學式尺寸量測儀。以非接觸方式量測行進中線材全長的外徑。

適用於線材、金屬線外徑量測 - LS-9000系列

超高速、高精度測微計

透過高亮度綠光LED的透過光與3-CMOS,以非接觸方式檢測行進中線材外徑的邊緣。憑藉16,000次/秒的高速取樣、高速曝光CMOS及傾斜補正功能,即使行進中的線材有偏擺或傾斜,也能進行穩定非接觸量測。無掃描部的無驅動部結構,實現長壽命與免維護。極細模式可穩定非接觸量測φ10µm的極細線或間隙,發射器/接收器分離型還支援多條線材的排線同步量測。具備空氣吹除功能與IP67的耐環境設計,亦可安裝於有粉塵、油霧環境的拉絲、絞線、繞線生產線上,並可透過外徑與存在監控,用於檢測斷線或缺失。

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線材、金屬線外徑量測的應用案例

廣泛應用於漆包線、極細線、光纖等各種行進中線材的外徑量測。

漆包線、極細線的外徑量測

以16,000次/秒的高速取樣,即使是1000 m/min的高速生產線,也能以約1 mm的間距進行量測。φ10µm的極細線則使用極細對應感測頭進行量測。

多條線材同步、排線外徑量測

使用發射器/接收器分離型感測頭同時量測多條線材,或追隨收線的排線位置量測外徑。以節省空間的方式進行全數管理。

切割線的外徑、間距量測

同時量測多條切割線的外徑與間距。掌握因切削加工產生的經時變化,使維護時機視覺化。

惡劣環境下的外徑量測(空氣吹除、IP67)

即使在粉塵、油霧環境下,也能透過空氣吹除功能進行穩定非接觸量測。IP67的耐環境設計,可長期安裝於拉絲、絞線生產線上。

關於線材、金屬線外徑量測(LS-9000系列)的常見問題

Q 可以非接觸方式量測行進中線材、金屬線的外徑嗎?

A

可以量測。LS-9000系列透過檢測透過光的邊緣,以非接觸方式量測行進中線材的外徑,並以16,000次/秒的取樣連續量測全長。

Q 與雷射掃描方式有何不同?

A

掃描方式的結構在行進中產生偏擺時,容易造成遮光時機的誤差,但LS-9000系列採用高速曝光CMOS與傾斜補正功能,抗偏擺與傾斜能力強,可進行穩定非接觸量測。

Q 可以量測像φ10µm這樣的極細線嗎?

A

可以量測。極細模式可穩定非接觸量測φ10µm的極細線或間隙,發射器/接收器分離型還支援多條線材的同時、排線量測。

Q 可以檢測斷線或線材缺失嗎?

A

可以。藉由監控外徑與線材有無,可檢測出斷線、缺失或局部變細,進而抑制生產線停止或不良品流出。

Q 可以取代接觸式分厘卡嗎?

A

可以取代。採用非接觸式,無需停止運作,且不會在細徑、軟線上造成刮痕,即可進行全長量測,解決抽樣檢驗漏檢的問題。

Q 在有粉塵或油霧的環境中也能使用嗎?

A

可以使用。藉由空氣吹除功能與IP67的耐環境設計,即使在拉絲、絞線、繞線生產線等惡劣環境下,也能進行穩定測量。

Q 關於線材、金屬線外徑量測/斷線檢測的課題,歡迎隨時與我們聯絡

A

量測方式、安裝配置、規格等資訊,可透過型錄或聯絡表單進行確認。

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