ISO 25178與JIS B 0601-2001的差異
在此彙整ISO 25178 與JIS B 0601-2001、JIS B 0671-2002 的差別。
| 項目 / 規格 | ISO 25178 | JIS B 0601-2001 (ISO 13565-1) |
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|---|---|---|---|---|
| 使用機器 | 接觸式、非接觸式形狀量測儀器 | 接觸式 （限探針式粗糙度量測計） |
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| 截面 | 評估目標 | S-F 平面 | 截面輪廓 | |
| 濾波器 | S- 濾波器 | λs 濾波器 | ||
| 粗糙度 | 評估目標 | S-L 平面 | 粗糙度輪廓 | |
| 濾波器 | S- 濾波器、L- 濾波器 | λs、λc 濾波器 | ||
| 高度參數 | 最大波峰高度 | Sp | Rp | |
| 最大波谷深度 | Sv | Rv | ||
| 最大高度 | Sz | Rz | ||
| 算術平均高度 | Sa | Ra | ||
| 均方根高度 | Sq | Rq | ||
| 偏度（偏斜度） | Ssk | Rsk | ||
| 峰度（尖銳度） | Sku | Rku | ||
| 空間參數 | Sal, Str, Std | – | ||
| 混合參數 | Sdq, Sdr | RΔq | ||
| 項目 / 規格 | ISO 25178 | JIS B 0671-2002 (ISO 13565-1998) |
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|---|---|---|---|---|
| 粗糙度 | 功能參數 | 核心部高度差 | Sk | Rk |
| 突出波峰部高度 | Spk | Rpk | ||
| 突出波谷部高度 | Svk | Rvk | ||
| 波峰部與核心部的 負荷面積（長度）率 |
Smr1 | Mr1 | ||
| 波谷部與核心部的 負荷面積（長度）率 |
Smr2 | Mr2 | ||
[注意] 係根據表面性狀參數（ISO 25178-2 : 2012）定義記載。2012 年4 月以後因規格修訂，內容可能隨之變更。
