良率的計算方法與透過3D掃描器的改善案例
提升良率是製造業的一大課題，而良率下降的原因繁多。為了解決這個問題，必須準確掌握整體製造流程，並找出問題點。
近年來，活用3D掃描器已成為備受矚目的對策之一。
KEYENCE的3D掃描型三次元量測儀「VL 系列」，能高精度地掃描產品的3D形狀並將其數據化，使製造流程中各階段的詳細分析成為可能。藉此，便能及早發現品質差異或製造上的問題，並迅速執行能直接提升良率的改善對策。
良率的計算方法
所謂的良率，是指「在製造流程中生產的產品裡，符合品質標準、可出貨至市場的產品比例」，是製造業中重要的指標之一。
舉例來說，投入相當於100個產品的原料或素材，最終能帶來利潤的產品有95個，無法帶來利潤的瑕疵品有5個，此時的良率即為95%。
高良率能直接帶來製造成本的降低、生產效率的提升，以及企業利潤的增加。
此外，在此也一併說明與良率相關的「直通率」及「不良率」。
造成良率下降的原因與對策
材料品質不均
材料的品質或尺寸若有不均，即使經過相同的製程，最終成品的品質也會產生差異。
在進料階段，由公司內部準確確認材料是否有問題，這一點至關重要。
製造流程不穩定
製造流程的變動或錯誤會引發產品瑕疵，導致良率下降。
因此，追求流程的穩定化是必要的。
品質檢測不充分
不恰當的品質檢測，可能會發生誤將公差內的合格品判定為不合格品等情況，從而產生耗損，導致良率下降。
透過準確的檢測，可以減少因誤判造成的耗損，最終達到降低製造成本的成果。
現有課題
掌握整體形狀
使用遊標卡尺等手持量具時，由於只能量測夾住的部分，因此在許多情況下難以掌握整體形狀。
如此一來，便無法掌握產品形狀或細微的尺寸差異，導致無法進行準確的回饋，因而產生良率下降的風險。
特別是在發生不良品時，若延遲發現或延遲鎖定原因，將無法迅速修正，進而成為良率下降的原因。
透過3D掃描型三次元量測儀「VL 系列」的改善案例
與3D CAD的比較
VL 系列能一次性地完整掃描產品的正面與背面，並取得數據。
能將產品整體與設計值（3D CAD圖檔）之間的差異，以色彩分佈圖的方式進行可視化。
藉由掌握點量測無法得知的整體形狀趨勢，便能輕易地進行修正回饋。
這是一種透過根本性地改善直通率，進而提升良率的解決方案。
產品的自動OK/NG判定
使用VL 系列，可針對相同形狀的連續量測，自動進行OK/NG判定。
可減少因人為量測的誤差等因素，而將原本應是良品的產品誤判為不合格品的失誤。
藉此，便能零人為失誤地完成最終成品的確認作業。
此外，本產品亦可應用於進料檢驗，因此能立即發現造成良率下降的材料品質不均問題，並擬定對策。
總結
VL 系列可完整環繞3D掃描！無論正面或背面，都能取得完整的環繞數據。
將掃描數據與3D CAD圖檔疊合，輕鬆掌握整體形狀！
當發生不良品時，能快速且準確地鎖定原因並回饋修正，藉此防止良率下降。
