近年封裝印刷電路板和電子零件朝小型化、高密度化發展,對焊錫的封裝品質要求也越來越高。除智慧型手機等裝置,在注重高水準、高安全性電子控制的汽車產業中,也極為重視焊錫不良的觀察、分析。
以下以代表性的焊錫不良「裂痕」「孔隙」的微觀觀察為主,介紹最新的4K數位顯微鏡的應用案例。

銲錫裂痕、孔隙等不良之觀察、量測

焊錫環境的變化

隨著快速普及,同時持續高功能化、小型化、薄型化的智慧型手機與平板電腦、穿戴式裝置等,內建封裝印刷電路板、電子零件的小型化、高密度化、多層化也越來越重要。
此外在汽車產業中,電子控制的自動煞車與無人駕駛技術等需求也日益提高,對於各種車用封裝印刷電路板、電子零件,也開始要求高耐久性、可靠性。

在導電與電子零件接合等重要作用的「焊錫」,特別注重提高耐久性、可靠性。此外,2000年代開始的焊錫無鉛化,對於材料脆化對策的接合技術要求也越來越高。
評估焊錫耐久性、可靠性時必要的試驗是可靠性評估試驗。一般評估焊錫時會使用溫度週期試驗。

引發故障原因的焊錫不良有許多種類。例如膏狀焊料、錫膏等自動塗布或印刷製程中,因凹狀部分有「潤濕性*」不足問題,可能發生和焊盤之間的接合強度降低與「孔隙」等不良。從各種焊錫不良的觀察、分析找出原因,是改善、提升品質不可或缺的過程。以下將說明代表性的焊錫不良及其風險、觀察的必要性。

潤濕性:用固體表面和滴落其上的液體(熔融狀態的焊錫等)的「接觸角θ(Contact Angle)」大小,來表示潤濕性。圖中A的角度(接觸角θ)越小,潤濕性越高,表示液體確實被塗布在固體表面的狀態。接觸角越大,表示呈固體表面撥開液體的狀態,潤濕性低。

接觸角θ(圖中A)越接近0°,「潤濕性」越高,如果是焊錫,就表示接合強度變大。
接觸角θ(圖中A)越接近0°,「潤濕性」越高,如果是焊錫,就表示接合強度變大。

焊錫不良和裂痕、孔隙觀察的重要性

引發產品故障原因的焊錫不良,有焊錫量過多導致相鄰連接部位短路的「錫橋」、「焊錫過多」、加熱過多造成「焊錫球(彈濺)」或「導通不良」、助焊劑蒸發或加熱不足造成「冷焊」等種類。
在封裝完成後難以檢測、特定不良的原因有「裂痕」和「孔隙」。這些不良的發生原因,除剛封裝完,還有封裝後隨時間經過與應力而產生,因此必須用顯微鏡進行觀察、不良分析。

「裂痕」的原因和風險
裂痕是焊錫接合後,因時間經過與應力、疲勞等發生。封裝初期階段的細微裂痕加劇後,會導致接合部位的阻力值升高,發生焦耳熱。隨著裂痕進行,接合部分就會開口引發故障。特別是無鉛焊錫,一旦發生裂痕,容易加快裂痕加劇的趨勢。裂痕加劇後有發熱、失火的危險,從品質保證的觀點來看,對於焊錫裂痕必須十分小心並採取對策。
「孔隙」的原因和風險
在焊錫材料的粒子間有間隙狀態下進行焊錫印刷稱作"回流焊",與零件封裝時發生的氣體、凹陷部分的膏狀焊料與錫膏潤濕性不足等,都可能導致焊錫出現孔隙。孔隙則會降低焊錫強度。而局部的強度降低,可能導致裂痕發生,因此查明孔隙發生的原因和採取相應對策極為重要。

用數位顯微鏡正確觀察、分析、評估各種試驗與市場產品故障常見的裂痕與孔隙,對品質保證與故障原因釐清、製程與材料、品質改善來說非常重要。

焊錫裂痕與孔隙觀察、分析的應用案例

封裝後的焊錫為立體形狀,用以往的顯微鏡進行高倍率觀察時,會因景深不足,只能部分對焦,導致每個觀察部位都必須重新調整焦距。
此外樣本未經充分研磨時,也會因為表面的凹凸而無法對整體對焦。還有因材料光澤導致反射,錯失不良部位,或因放大倍率的解析度不足無法觀察到細微裂痕等課題。

KEYENCE的高精細4K數位顯微鏡「VHX系列」,透過大景深和高解析度的光學系統和4K CMOS、高功能照明與高水準的影像處理等獨創系統,解決以往課題。簡單操作,快速實現更高水準的焊錫觀察、不良分析、評估,大幅提升作業效率。
在此介紹利用「VHX系列」的焊錫不良觀察、分析應用案例。

封裝印刷電路板的焊錫裂痕傾斜觀察

4K數位顯微鏡「VHX系列」的「全角度觀察系統」,可對封裝印刷電路板立體焊錫圓角進行傾斜觀察。
此外透過「消除光暈」「去除環狀」功能,還能不受焊錫特有的光反射影響,清晰觀察焊錫裂痕。
「VHX系列」實現了優於一般顯微鏡20倍的大景深。再加上「即時景深合成」功能,高倍率也能輕鬆取得對立體目標物整體全幅對焦的清晰4K影像。

4K數位顯微鏡「VHX系列」的焊錫裂痕傾斜觀察
焊錫裂痕的傾斜觀察(100×)
焊錫裂痕的傾斜觀察(100×)
焊錫圓角的傾斜觀察 左:景深合成、消除光暈、去除環狀 / 右:一般
焊錫圓角的傾斜觀察
左:景深合成、消除光暈、去除環狀 / 右:一般

電子零件截面的焊錫裂痕觀察

封裝初期即使是微小的焊錫裂痕,也會隨著時間經過越來越嚴重,成為故障或發熱、失火的原因。所以因倍率、解析度不足而錯過的細微裂痕,都是待解決的重大課題。

4K數位顯微鏡「VHX系列」配備高解析度HR鏡頭與電動旋轉器,實現不用更換鏡頭即可自動切換,在20-6000倍之間放大的「無縫縮放」。即使是不良部分的高倍率觀察,透過畫面分割功能排列顯示低倍率影像,隨時掌握放大部位進行觀察。
此外透過大景深和「即時景深合成」,即使樹脂鑲埋的截面樣本因研磨不足導致表面呈凹凸狀時,都能用清晰的影像觀察次微米級的細微焊錫裂痕。

4K數位顯微鏡「VHX系列」的截面樣本之裂痕觀察
IC截面的焊錫裂痕觀察(左:150×/右:1000×)
IC截面的焊錫裂痕觀察(左:150×/右:1000×)
IC截面的焊錫裂痕觀察(左:100×/右:1000×)
IC截面的焊錫裂痕觀察(左:100×/右:1000×)
BGA截面:焊錫球裂痕的導通不良觀察(左:200×/右:500×)
BGA截面:焊錫球裂痕的導通不良觀察(左:200×/右:500×)

截面樣本的焊錫孔隙觀察

4K數位顯微鏡「VHX系列」在觀察樹脂鑲埋的BGA截面時,也能透過「即時景深合成」,不受研磨不足的凹凸影響,取得對整體全幅對焦的清晰放大影像。實現連細微的孔隙都不錯失。

4K數位顯微鏡「VHX系列」的BGA焊錫球的孔隙觀察
BGA截面焊錫球的孔隙觀察
BGA截面焊錫球的孔隙觀察

印刷電路板截面的定量分析

4K數位顯微鏡「VHX系列」利用高解析度的放大影像,進行高精度的自動面積計算、計數。除了可定量分析外,還能使用拍攝的影像和數值資料自動編製報告,只要1台即可大幅提升作業效率。

4K數位顯微鏡「VHX系列」的印刷電路板截面之變色部位觀察、量測
印刷電路板截面的變色部位觀察(500×)
印刷電路板截面的變色部位觀察(500×)
變色部位的自動面積量測、計數
變色部位的自動面積量測、計數

焊錫圓角外觀的接合強度評估

以往焊錫表面會因為光澤反射,難以找出照明條件,導致人為誤差,或錯失不良部位。

4K數位顯微鏡「VHX系列」僅需一鍵操作,即可自動取得全方向照明的拍攝資料的「多重照明功能」,操作者只需要選出最適合的影像,即可進行觀察、評估,大幅縮短以往找出照明條件時所花的時間。此外即使在選擇多重照明影像後,也會自動儲存不同照明條件的影像資料,透過簡單的滑鼠操作,即可調閱不同照明條件的影像。
再加上使用「消除光暈」「去除環狀」功能,可抑制焊錫獨有的光反射,可用清晰的影像觀察焊錫接合部分的外觀。熔融狀態的焊錫潤濕性過低時,焊錫無法充分潤濕焊盤表面導致「不潤濕」,從而發生的焊錫圓角接合強度降低,也能清晰觀察不錯過。

4K數位顯微鏡「VHX系列」的焊錫圓角觀察、評估
焊錫圓角和焊盤的傾斜觀察+多重照明(100×)
焊錫圓角和焊盤的傾斜觀察+多重照明(100×)

1台設備匯集焊錫品質保證的必要功能

高精細4K數位顯微鏡「VHX系列」還配備許多功能如2D、3D量測等,只要1台即可支援發生在多樣化封裝中的各種焊錫不良的觀察、分析、量測、評估。透過簡單操作即可快速取得清晰的4K影像與量測值,可大幅提升以往的作業效率。

有關「VHX系列」的詳細說明,請下載型錄,或洽詢KEYENCE。