依量測應用選擇

量測儀器選擇指南

高度 / 段差

透過檢測物體的上表面位置來量測高度。如果物體的下表面無法固定,可利用兩台感測器,或以水平線投射雷射光束的方式直接量測形狀。

光切法
LJ 系列
LJ 系列

檢測物體上表面的位置。
由於以非接觸式進行2D形狀量測,因此也能量測相對於目標物基準面的斷差。

產品特點

  • 可進行2D線上高度量測
  • 任何目標物都可超高速量測
  • 能夠輸出波形資料
LJ-V 系列

LJ-V 系列
共焦反射方式
CL 系列
CL 系列

偵測到物體頂面位置。
高速下進行非接觸式取樣,因此即使目標物移動也可以進行穩定量測。

產品特點

  • 不需接觸即可高精度量測各種材質、顏色的目標物
  • 超小型且輕量,可實現簡單安裝
  • 量測範圍廣,全區域高精度檢測
CL-3000 系列
彩色共焦雷射位移計
CL-3000 系列
光學對照法
TM 系列
TM 系列

感測器在擷取目標物形狀的影像圖後,便可檢測任何位置。此外,亦可同時多點量測。

產品特點

  • 可同時多點量測
  • 高穩定性
TM-3000 系列

TM-3000 系列
接觸式
GT 系列
GT 系列

檢測物體上表面的位置。

產品特點

  • 只要目標物為固體皆可量測
  • 接觸式的高精度量測
GT2 系列

GT2 系列