傳統量測方法是利用單點雷射位移計掃描後量測。LJ-X系列採用線雷射,無需移動感測頭就能量測載體與印刷電路板的段差。無需停止傳送即可量測,因而可大幅縮短檢查時間。
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傳統非接觸式雷射位移計的取樣速度不夠,無法量測。LK-G5000系列經由392kHz的超高速取樣,能檢查到極其細微的振動。
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檢查接合後元件的傾斜。CL-3000 系列採取了可進行同軸量測的彩色共焦方式。無論目標物為鏡面、粗糙面,都可用同樣的安裝方法進行量測,達到簡單又高精度的檢查。
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傳統量測方法是利用單點雷射位移計掃描後量測。LJ-X系列採用線雷射,無需移動感測頭就能量測載體與印刷電路板的段差。無需停止傳送即可量測,因而可大幅縮短檢查時間。
傳統非接觸式雷射位移計的取樣速度不夠,無法量測。LK-G5000系列經由392kHz的超高速取樣,能檢查到極其細微的振動。
檢查接合後元件的傾斜。CL-3000 系列採取了可進行同軸量測的彩色共焦方式。無論目標物為鏡面、粗糙面,都可用同樣的安裝方法進行量測,達到簡單又高精度的檢查。