3D檢測
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檢測電極在切斷後產生的端部毛邊。LJ-X8000 系列可以實現3200 point/Profile 的超高精細量測,即便是細微的毛邊也能夠穩定檢出,不會遺漏。
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若使用光點直徑3.5 μm的極小光點雷射位移計,即可量測粗糙度以及細微形狀。搭配X-Y平台執行細緻掃描,可組建3D輪廓。不僅可量測不透明物體,憑藉著出色的角度特性,也可以量測透明或鏡面物體的3D輪廓。
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檢測電極在切斷後產生的端部毛邊。LJ-X8000 系列可以實現3200 point/Profile 的超高精細量測,即便是細微的毛邊也能夠穩定檢出,不會遺漏。
若使用光點直徑3.5 μm的極小光點雷射位移計,即可量測粗糙度以及細微形狀。搭配X-Y平台執行細緻掃描,可組建3D輪廓。不僅可量測不透明物體,憑藉著出色的角度特性,也可以量測透明或鏡面物體的3D輪廓。