不良品「零」流出 × 過度檢測「零」發生 | 搭載AI×圖像儲存裝置的視覺系統 VS-G 系列

以往的課題

無論設定了幾次，皆無法找到「剛剛好」的設定

以往的影像處理系統，發生不良品流出時便提高判定標準，而當過度檢測導致良率下降時又放寬判定標準，如此反覆調整，始終難以找到最佳設定。

想要判定為NG的損傷，因為誤判為OK而造成不良品流出

調整

想要判定為OK的髒污，因為誤判為NG而造成良率下降

找出不良品「零」流出、過度檢測「零」發生的最佳設定

以內建儲存裝置累積的實際生產圖像為基礎，自動調整至最佳設定。
透過學習了KEYENCE 專業知識的自動調整功能，引導至適用於所選圖像的最佳設定。

步驟 1 選擇所有難以調整的圖像

步驟 2 指定不良位置、過度檢測位置

步驟 3 調整為最佳設定

搭載可以達到比以往快最多13倍^* 大幅提升處理速度的高速處理器。透過每項任務的最佳化設計，達到優異的穩定性，透過大幅增加記憶體，提升程式自由度。支援高速、高負載檢查的壓倒性處理性能。

與使用VS-L/S/C 系列 500萬畫素、AI分割時的比較

透過內建儲存裝置，有效消除因設備相容性或通訊壅塞所造成的圖像漏存問題。全新採用的圖像壓縮技術可以兼具高畫質及大量圖像儲存。實現包含良品圖像在內的長期圖像保存。

本結果為模擬實際使用情境，於公司內部驗證所得。

搭載找出規則式工具最佳參數之「自動調整參數」，以及找出AI 工具最佳學習圖像之「自動圖像選擇器」。邏輯資料庫及AI 皆可進行最佳設定。