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光學刻度系統Ⅱ

光學刻度系統Ⅱ

光學刻度系統Ⅱ

絕對值玻璃刻度尺可依據位置集成不同模式,再以超解析度CMOS 感測器對刻度尺進行高速攝影。自刻度尺上的狹縫模式讀取絕對位置的資訊,為世界第一的檢測原理。

採用全新開發的發射器、接收器、CPU 等裝置,再度進化的『光學刻度系統Ⅱ』,搭載於ø8 mm 的纖細機體內。高精度感測器的同時,又能克服「誤差」或「無法得知絕對位置」等傳統接觸式感測器的問題。

傳統機型的問題

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