搜尋紀錄
    系列 ( 項結果的)
      型號 ( 項結果的)
        關鍵字

          微型光譜干涉雷射位移計SI-F 系列

          SI-F80

          感測頭 厚度量測型

          產品規格

          選取語言

          型號

          SI-F80

          類型

          厚度量測型 感測頭

          量測範圍

          0.05 至 1.1mm*1 (可檢測距離為80 至 81.1mm)

          量測用光源

          紅色SLD 中心波長820nm 最大0.6mW 1類 (JIS C6802)

          光點直徑

          ø20 µm*2

          線性

          ±0.3 µm*3

          解析度

          0.25 µm*4

          取樣週期

          200 µs

          導向用光源

          紅色LD 650nm 最大0.1mW 1類 (JIS C6802)

          LED顯示

          靠近量測中心: 綠光, 在量測區域以內: 橙色光, 在量測區域以外: 閃爍橙色光

          溫度特性

          F.S./°C的0.01%

          環境抗耐性

          外殼防護等級

          IP64

          環境光照

          白熾燈/螢光燈:最大 10,000 lux

          環境溫度

          0 至 +50 °C

          相對濕度

          35 至 85 % RH (無凝結)

          耐振動性

          10 至 55 Hz、雙倍振幅 1.5 mm、X,Y,Z 方向各 2 小時

          材質

          SUS

          材質

          感測頭

          光譜模組

          聚碳酸酯

          重量

          約 39 g (含連接線)

          *1 厚度量測型感測頭顯示玻璃板間距的量測範圍。請確保量測對象位於檢測距離範圍內。
          *2 表示量測範圍內的最小光束直徑。
          *3 當量測兩塊玻璃板間隙,且將平均量測次數設為 256 時獲得的值。
          *4 當量測位於量測範圍中心的玻璃板表面,且將平均量測次數設為 4096 時獲得的值。

          量測應用指南

          量測數據庫

          • General Catalog Request
          • Trade Shows and Exhibitions
          • eNews Subscribe

          位移計