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          表面掃描雷射共焦位移計

          LT-9000 系列

          雙掃描高精密度雷射測定器。 Z 軸掃描: 的高解析度可測定所有的。 X 軸掃描: 追求功能性和穩定性。

          產品特點

          • 高精密度雙掃描方式
          • 0.3 µm 的高解析度可測定所的對象物
          • 追求現場操作的便利性
          • 使用途更為廣泛的多樣化測定模式

          下載產品型錄

          LT-9000 系列 - 表面掃描雷射共焦位移計

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