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          形狀分析雷射顯微鏡

          VK-X 系列

          業界領先水準的清晰觀察

          從光學觀察到如同彩色SEM 的高解析度觀察

          [業界最高] 16 位元雷射彩色觀察

          在大氣中以全功能覆蓋性的解析度實現全焦觀察。

          光學觀察

          光學觀察

          全焦觀察

          全焦觀察

          高解析度雷射 黑白觀察

          高解析度雷射 黑白觀察

          [業界最高] 16 位元雷射彩色觀察

          16 位元雷射彩色觀察

          在大氣中以全功能覆蓋性的解析度實現全焦觀察。

          透過短波長雷射全面掃描,能夠以光學顯微鏡無法實現的解析度,按200 至24000 倍率* 實現全焦觀察。

          * VK-X200 系列時

          光學圖像

          光學圖像

          雷射圖像  盤片坑(6000 倍)

          雷射圖像 盤片坑(6000 倍)

          近乎SEM 的解析度實現真彩觀察。

          對於由雷射獲取到的各像素均已為正確對焦的高度色彩資訊,由CCD CAMERA 按每1像素分別提取,再轉換成雷射高解析度圖像。

          雷射黑白圖像

          雷射黑白圖像

          16 位元雷射彩色圖像  墨粉(1000 倍)

          16 位元雷射彩色圖像 墨粉(1000 倍)

          量測系統程式庫

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