電子報 2022 : 2022年03月14日 | KEYENCE 台灣基恩斯

2022年03月14日

讀取徵兆如感測器回傳數據波形、時間異常等，自動分析異常來源，在故障發生前排除問題，還有WEB伺服器功能，手機也能存取資料。詳見p.12

從製造晶圓到元件及迴路的形成、切單與檢查，半導體各種元件及IC製程檢測等，涵蓋11道製程關卡的高精度檢測提案。

可高達近3萬倍並自動設定最佳量測條件的雷射兼白光干涉顯微鏡VK-X3000系列，內建豐富分析工具，粗糙度係數模組，還可複數樣品比較分析。

聽聽真實使用者的心聲！從傳統光學量測改使用高精度影像尺寸測量儀LM系列，3大面向解析優缺點與應用案例，馬上下載。

什麼原理才能清楚觀察？觀察之外還能做什麼？只能做平面測量嗎？顯微鏡用戶必讀的常識集，馬上了解。

簡單好用，還有異常放電量與清潔提示警報，獨家清潔氣體隱蔽系統，實現比傳統快5倍的除靜電速度且大幅減少電極針維護工時。

幾何公差、輪廓形狀、肉厚等，1台儀器即可同時完成所有圖面量測與分析需求，還可量粗糙度與3D CAD檔比對驗證功能。

以往讀碼機因解碼及交互重複拍攝等問題，導致讀取速度提升困難，採用13核心與新演算法的條碼機能解決問題，案例與比較分析，馬上下載。

工件位置/方向不一也能自動對焦補正，應用含正負極箔刻印標籤、接合處異物去除和去毛邊等。