可透過非接觸方式，正確、迅速、簡單地量測所有「粗糙度」全新形狀分析雷射顯微鏡 VK-X 系列

從 50 mm 到 1 nm 高精度量測

量測範圍超越以往的 16 倍

實現了「大範圍 + 高精度」的解析度

由於雷射光點直徑較粗糙度儀的探針精細許多，因此能正確量測出細微的形狀。

不需調整量測的「AI-SCAN」

輕鬆一按，自動處理

媲美 SEM 的高解析度 / 高倍率

大氣環境下最大高達 28800 倍的觀察力

快至 12 倍的量測速度 Focus Variation *ISO 25178-6

最快 5 秒

形狀分析雷射顯微鏡

VK-X 系列

歡迎直接洽詢免付費電話 0800-010-898