細型微結構表面觀察、量測-形狀分析雷射顯微鏡

  • 顯微鏡 + SEM + 粗糙度儀

    • 共軛焦confocal microscopy原理
    • 輕鬆完成超高解析度之全彩觀察 & 形狀尺寸量測

    無需預處理,不傷目標物

    • 非接觸式量測,零前置處理時間

    放置目標物後一鍵完成全自動高精度量測

    • 任何人皆可輕鬆比較多個目標物的表面差異

技術資料

VK-X 系列 以雷射解決「光學顯微鏡/SEM/粗糙度儀」之問題點

VK-X 系列 以雷射解決「光學顯微鏡/SEM/粗糙度儀」之問題點

  • [檔案類型]PDF:2.47MB

VK-X 系列 形狀分析雷射顯微鏡 產品型錄

VK-X 系列 形狀分析雷射顯微鏡 產品型錄

幾乎在任何材料上都可以執行非接觸式輪廓量測與粗糙度量測。

  • [檔案類型]PDF:6.09MB

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