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形狀分析雷射顯微鏡 VK-X系列

  • 非接觸式量測

    • 雷射高精度掃描,不傷目標物

    無需預處理,16 位元彩色觀察

    • 樣本不受限,零前置處理時間

    放置目標物後一鍵完成全自動高精度量測

    • 任何人皆可輕鬆比較多個目標物的表面差異

建議的項目

VK-X 系列 以雷射解決「光學顯微鏡/SEM/粗糙度儀」之問題點

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  • [檔案類型]PDF:2.47MB

VK-X 系列 形狀分析雷射顯微鏡 產品型錄

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幾乎在任何材料上都可以執行非接觸式輪廓量測與粗糙度量測。

  • [檔案類型]PDF:6.09MB
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