雷射顯微鏡 - VK系列
薄膜/透明膜 非接觸式厚度量測專家

       最高解析度0.01 nm，非接觸不破壞             
  
一鍵自動測量，無需經驗也無人為誤差  
  
              塗佈膜厚、膜層結構/粗糙度/表面輪廓等量測必備
  

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VK-X3000 系列 形狀分析 雷射共軛焦 兼 白光干涉顯微鏡 產品型錄

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