• 薄膜/透明體測厚專家
     - VK系列雷射顯微鏡

     奈米等級高精度測量,非接觸不破壞
     數秒完成操作簡單
     粗糙度快速分析
  • 媲美SEM、最高28800倍彩色觀察

  • 非接觸式測量,目標物不受損傷

  • 光點半徑0.2µm的精準測微

  • AI-SCAN新技術實現一鍵測量,無需操作經驗

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