3D 干涉式位移感測器 - WI系列 | KEYENCE 台灣基恩斯

3D 白光干涉式位移計 - WI系列
- 以「面」的方式測量
  同軸量測無死角，也不受材質/顏色影響，半透明物體也能正確掌握形狀
- 產線上高速全檢，免載物台
  搭載位置自動補正功能，不需定位校準
- 多元應用解決各式需求
  段差、多點高度、輪廓、體積面積、角度、直徑、距離位置等皆可高速精準量測
- 點此下載型錄與應用實例

多個BGA錫球高度檢測，面積/體積也可瞬間量測
PCB基板的印刷部位厚度測量
晶圓蝕刻溝槽深度量測
RF模組端子平整度量測

建議的項目

WI-5000 系列 3D 干涉式位移感測器產品型錄

[檔案類型]PDF:3.44MB

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