取代傳統膜厚計/膜厚儀
透明薄膜 量測新利器

  • 線上測量-SI系列

    • 解析度 0.25 μm
    • 世界最小， ø2mm微型感測頭
    • 高速移動產線也能精準測量膜厚10μm以上透明膜

  • 離線測量-VK系列

    • 奈米等級高精度量測
    • 無須破壞切割、非接觸式量測
    • 雷射光點半徑0.2μm，輕鬆取得微小起伏