取代傳統膜厚計/膜厚儀，透明薄膜量測利器-SI光譜干涉雷射位移計

取代傳統膜厚計/膜厚儀
透明薄膜量測新利器
- 解析度 0.25 μm
- 世界最小， ø2mm微型感測頭
- 高速移動產線也能精準測量膜厚10μm以上透明膜
- 點此下載功能型錄

SI-F 系列微型光譜干涉雷射位移計產品型錄

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