• 取代傳統膜厚計/膜厚儀
    透明薄膜 量測新利器

    • 解析度 0.25 μm
    • 世界最小, ø2mm微型感測頭
    • 高速移動產線也能精準測量膜厚10μm以上透明膜
  • 光纖感測頭不發熱,也不受電磁噪聲干擾

  • 6個資料輸出/入介面,輕鬆和外部設備通訊(USB、二進位輸出、Ethernet、RS-232C、類比、I/O)

  • 即時顯示收光量,輕鬆確認安裝角度與量測穩定性,還能減少安裝工時

  • 可同時接 6 感測頭,即時進行多重計算,高精度量測平整度、平均高度等

建議的項目

SI-F 系列 微型光譜干涉雷射位移計 產品型錄

SI-F 系列 微型光譜干涉雷射位移計 產品型錄
  • [檔案類型]PDF:2.72MB

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