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  • <全新上市> 高精度量測
    超小型彩色共焦雷射位移計 CL系列

    • 不受材質、外觀限制
    • 不受發熱或電氣干擾
    • 適用於曲面、凹陷、高地差、粗糙表面
    • 量測範圍寬廣,全域高精度

      使用超高亮度多色發射器光源,可在整個測量範圍內實現更大的測量範圍和更高的精度。

    • 超小型、輕量

      可安裝於狹小空間,感測頭可輕易並列安裝或搭載於機械手臂。

    • 對多重反射光的高抗性

      當高度量測的目標物為 IC 針腳這類光澤性物體時,可藉由 Quad 處理,排除引腳邊緣導致的多重反射光影響,進行高精度量測。

    • 混合材質、粗糙面也能穩定高精度量測

      由各自接收的光線頻譜將量測值的可靠度數據化進行演算處理,排除細微凹凸的影響,計算穩定且正確的量測值。

    • 玻璃

    • 印刷電路板

    • 封裝材料、接著劑

    • 機械加工零件

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