幾何公差簡單、快速量測!
三次元量測技術改善講座_台南新市場

                                 如果您目前遇到了以下量測問題,KEYENCE邀請您蒞臨技術講座一同討論:
                                 ●三次元量測結果無法及時分析應用、報告輸出?
                                 ● 多孔徑、多尺寸、工件形狀複雜,量測多個尺寸困難又耗時?

                                  本講座將與您分享:
                                 ★三次元量測技術改善方法、全新影像尺寸量測儀 IM系列介紹。
                                 ★現場應用提問、解析,若您有Sample想實測,歡迎您攜帶討論!(請於報名頁面備註攜帶Sample)

                                                                        《活動與報名資訊請捲動至頁面下方

  • 詳細地圖資訊請點擊圖片

  • 【活動日期】

    2019年4月17日(三

    第一場次:14:00-15:00

    第二場次:16:00-17:00   


    【活動地點】

    地點:南科育成中心 B1 B104會議室

    台南市新市區南科二路12號

    停車資訊:

    南科育成中心停車場,步行1分鐘,免費

    【報名方法】

    1) 免費。(需預先報名,請攜帶名片報到)
    2) 每場名額20,同公司最多2同仁參加。
    3) 請於3/29(五)16:00前進入以下報名頁面,以中文填寫報名。

    名額有限,請盡早報名確保您的座位!
    收到報名表後將於2個工作天內以電話或E-mail通知結果。
    未收到結果通知者表示未報名成功,請來電詢問。
    恕不接受現場報名。未報名成功者將無法入場。


    諮詢專線:02-2721-8080  #2118 黃小姐
    信箱
    learn@keyence.com.tw

    ***本公司將保留最終邀請權利***