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面粗糙度的參數


Str 表面性狀長寬比

表示表面性狀的等向性、異向性。Str 採 0 到 1 的結果,接近 0 時表示有紋路等,接近 1 時表示表面性狀沒有依循方向。

Str 表面性狀長寬比

關於自相關函數

所謂自相關,係指影像處理中,移動圖像本身的座標而成的圖像,與量測能夠整合到何種程度的標準。

計算Sal、Str時使用的自相關函數如下。
Sal 最小自相關長度
為簡單說明此函數,僅以X方向說明。

首先,假設有如下所示的段差資料。
Sal 最小自相關長度
此資料的自相關如下。
Sal 最小自相關長度
簡單來說,自相關函數為求高度資料與高度資料本身偏移後,資料重疊的部分。
(下圖的黃色區域。)
如果偏移量小,會因為重疊的部分大,自相關也會變大。
如果偏移量大,會因為重疊的部分小,自相關也會變小。

Sal 最小自相關長度

段差急遽時,即使偏移量小,也會因形狀大幅變化,自相關函數會立刻衰減。
僅有平滑的形狀時,如果不大幅增加偏移量,形狀就不會改變,所以自相關函數就不太會衰減。

Sal為求出至自相關最快衰減的距離,可以判斷表面高度是否有急遽變化的地方。
此外,Str為求出至自相關最快衰減的距離,和至自相關最慢衰減的距離之比,可以判斷有無紋路。


由參數一覽搜尋

高度 Sa 面的算術平均高度
Sz 最大高度
Sq 均方根高度
Ssk 偏度(偏斜度)
Sku 峰度(尖銳度)
Sp 最大波峰高度
Sv 最大波谷深度
空間 Sal 最小自相關長度
Str 表面性狀長寬比
Std* 表面性狀方向
混合 Sdq 均方根斜率
Sdr 界面展開面積比
功能 Smr(c) 負荷面積率
Smc(mr) 逆負荷面積率
Sk 核心部高度差
Spk 突出波峰部高度
Svk 面的突出波谷部深度
Smr1 分離突出波峰部與核心部的負荷面積率
Smr2 分離突出波谷部與核心部的負荷面積率
Sxp 極點高度
功能(體積) Vvv 波谷部空隙容積
Vvc 核心部空隙容積
Vmp 波峰部實體體積
Vmc 核心部實體體積
形態 Spd 波峰頂點密度
Spc 波峰頂點算術平均曲率
S10z 十點範圍高度
S5p 五點波峰範圍高度
S5v 五點波谷範圍深度
Sda(c) 平均波谷範圍面積
Sha(c) 平均波峰範圍面積
Sdv(c) 平均波谷範圍容積
Shv(c) 平均波峰範圍體積



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