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薄膜的厚度量測

Thickness measurement of thin film

薄膜加工

由於滾筒的偏轉會影響量測,所以很難在滾筒上量測厚度。

優點

透過同時執行同步的滾筒和薄膜量測,可以最大限度減少滾筒錯誤。

瞭解產品的詳細資料

  • LK-G5000 系列 - 超高速/ 高精度 CMOS 雷射位移感測器

    雷射位移感測器必須同時具備速度,精度和卓越性能,方可勝任於所有應用。LK-G5000 採用了國際頂尖技術,力爭在各個方面都做到世界最佳。

  • LK-G3000 系列 - 超高速、高精度CCD雷射位移感測器

    有6種感測頭可供選擇,配合全新演算法和2種級型的光學系統一同使用

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