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LK-G 系列 CCD雷射位移感測器
超高速、高精度LK-G 系列CCD雷射位移感測器
產品索引

超高速、高精度CCD雷射位移感測器

•  世界最快的採樣速度:50kHz
•  業界最高的精確度:±0.03%(LK-G10/15)
•  同類中最高的解析度:0.01µm
•  多功能控制器
•  簡單易用的功能表式軟體
有6種感測頭可供選擇,配合全新演算法和2種級型的光學系統一同使用
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超高速、高精度CCD雷射位移感測器

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Linearized CCD及先進技術

Linearized CCD及先進技術

主要特色:全新開發的Li-CCD(Linearized CCD),高精度Ernostar物鏡以及其他獨一無二的先進技術。


先進特點及型號

先進特點及型號

六感測頭的組合構架可進行高精密量測、高精度量測以及長距離量測。可對透明物體、塑膠以及金屬進行可靠的量測。


ABLE功能

量測不同類型的物體

使用ABLE功能配合全新開發的量測演算法就可以對擴散反射、透明或半透明物體進行量測。


控制器: 置指示器和資料記憶體

多功能控制器

全新設計的多功能控制器,內置指示器和資料記憶體。


LK-G: CCD雷射位移感測器應用

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寬光點應用

寬光點型

對於表面粗糙的物體,其表面不規則性會引起漫射,而寬光點型可以中和這種漫射,阻止資料產生波動。


小光點應用

小光點型

30 µm 的超小型光點能夠可靠地檢測小物體,它是進行輪廓量測的最佳選擇。


LK-G10/G15應用

LK-G10/15

LK-G10/G15系列的高精度量測實例。0.01µm的高解析度。


LK-G150/G155應用

LK-G150/G155

LK-G150/G155系列的長距離量測實例。量測範圍:5.91±1.57" (150±40mm)。


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