微型光譜干涉雷射位移計SI-F 系列

SI-F80

感測頭 厚度量測型

產品規格

選取語言

型號

SI-F80

類型

厚度量測型 感測頭

量測範圍

0.05 至 1.1mm*1 (可檢測距離為80 至 81.1mm)

量測用光源

紅色SLD 中心波長820nm 最大0.6mW 1類 (JIS C6802)

光點直徑

ø20 µm*2

線性

±0.3 µm*3

解析度

0.25 µm*4

取樣週期

200 µs

導向用光源

紅色LD 650nm 最大0.1mW 1類 (JIS C6802)

LED顯示

靠近量測中心: 綠光, 在量測區域以內: 橙色光, 在量測區域以外: 閃爍橙色光

溫度特性

F.S./°C的0.01%

環境抗耐性

外殼防護等級

IP64

環境照度

白熾燈或螢光燈:最大10000 lux

環境溫度

0 至 +50°C

相對濕度

35 到85% RH (無冷凝)

防震動

10 至 55Hz 雙振幅1.5mm X、Y、Z各方向2小時

材質

SUS

材質

感測頭

光譜模組

聚碳酸酯

質量

約39 g (含連接線)

*1 厚度量測型感測頭顯示玻璃板間距的量測範圍。請確保量測對象位於檢測距離範圍內。
*2 表示量測範圍內的最小光束直徑。
*3 當量測兩塊玻璃板間隙,且將平均量測次數設為 256 時獲得的值。
*4 當量測位於量測範圍中心的玻璃板表面,且將平均量測次數設為 4096 時獲得的值。

推薦本頁訪客參考的技術資料

    量測應用指南

    量測數據庫

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