同時測量多點外徑與段差

TM-3000 系列

  • CE Marking

1. 一次可進行多達16次量測

2D光學測微計可同時進行多點量測。

一次可進行多達16次量測

2. TM-3000系列2D測微計特色

2D量測會一次擷取目標物的所有資訊。此種量測方式是以投射在CMOS接收器上的2D影像為基礎。如此能在希望的位置點或是校正後的位置點來進行量測,只有2D裝置才能實現此種效果。

TM-3000系列2D測微計特色

3. 產品應用

量測和規測用途上無可匹敵的效能。

產品應用

下載產品型錄 TM-3000 系列 同時測量多點外徑與段差 產品型錄 (繁體中文)

親眼見證!

KEYENCE業務工程師可直接攜帶機台至貴公司拜訪,進行現場示範。KEYENCE業務工程師受過嚴格訓練,擁有全面性的產業知識,可幫助貴公司找出需要的解決方案。

要求示範產品 / 測試

應用協助 / 支援 / 更多

想了解更多關於KEYENCE的解決方案嗎?
想要取得報價嗎?有關於支援的問題嗎?
請聯絡我們並告知您的需求,您當地的產品專家將與您聯繫,提供最佳的解決方案。

聯絡我們

想馬上得到解答或希望透過電話聯繫嗎?

0800-010-898

下載產品型錄 TM-3000 系列 同時測量多點外徑與段差 產品型錄 (繁體中文)

推薦本頁訪客參考的技術資料

    量測應用指南

    量測數據庫

    最新 / 最多下載

      • General Catalog Request
      • Trade Shows and Exhibitions
      • eNews Subscribe

      位移計