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2D 測微計 TM-3000 系列的特點

全影像量測

結構

傳統雷射掃描型

只能量測一點。使用雷射掃描型進行量測時, 量測點僅為一維。無法同時量測多點或糾正目標傾斜。

TM-3000 系列

2D 量測可一次擷取所有目標資訊。量測是基於投射在 CMOS 上的 2D 輪廓影像進行的。這樣就可在想要的點上進行量測, 也可以在量測時進行位置校正,而這是在使用 2D 影像時才可進行的。

無掃描雷射的CCD 法

結構

傳統雷射掃描型

由於多角鏡表面的精度無法做到完美,每次取樣時的雷射掃描路徑也就會有所不同。雷射掃描型還會受到馬達旋轉情況不一致的影響, 而這種影響更會隨時間的推移而增加。儀器使用的時間越長, 雷射掃描路徑的不一致性就越大。

TM-3000 系列

2D 量測法可一次完成整個範圍內的量測。由於非掃描雷射,因此可準確測量指定點。

高耐久度

結構

傳統雷射掃描型

雷射掃描型發射器的放大視圖驅動機構會降低耐久度且需要維護, 還有因電氣干擾而產生的雷射衰弱問題。

TM-3000 系列

TM 3000 系列發射器的放大視圖[ 無馬達機構 ]
系統中沒有移動部件,耐久度更高。雷射掃描型測微計因馬達耐久度而帶來的問題已不復存在。

[ 超長壽命LED ]
做為光源的GaN(氮化鎵) LED 可靠性很高, 不會因電氣干擾而造成光源衰弱。

傳統雷射掃描型的原理

結構

結構

原理

原理

半導體雷射光束會投射在由馬達旋轉的多角鏡上, 以在量測範圍內掃描。測量目標阻斷雷射光束的時間以獲得目標的尺寸。